4xb sissejuhatus
Erinevate metallide ja sulamite struktuuri tuvastamiseks ja analüüsimiseks kasutatakse 4xB binokulaarset ümberpööratud metallograafilist mikroskoopi. See sobib metallograafilise struktuuri ja pinna morfoloogia mikroskoopiliseks vaatluseks.
Vaatlussüsteem
Instrumendi aluse tugipiirkond on suur ja kõverharm on kindel, nii et instrumendi raskuskese on madal ja stabiilne ja usaldusväärne. Kuna okulaar ja tugipind on kaldu 45 ° juures, on vaatlus mugav.
Mehaaniline etapp
Mehaaniliselt liikuv lava sisseehitatud pöörleva ümmarguse lavaplaadiga. Salvesid on kahte tüüpi, siseava φ10mm ja φ20mm.
Valgustussüsteem
Võtke kasutusele Kohleri valgustussüsteem, millel on muutuv valgustuba, 6V20W halogeenlambi valgustus, reguleeritav heledus. AC 220V (50Hz).
4xB konfiguratsiooni tabel
| Konfiguratsioon | Mudel | |
| Ese | Spetsifikatsioon | 4xb |
| Optiline süsteem | Infinity optiline süsteem | · |
| vaatluskalt | Binokulaarne toru, 45 ° kaldu. | · |
| okulaari | Lameda välja okulaari WF10X (φ18mm) | · |
| Lameda välja okulaari WF12.5X (φ15mm) | · | |
| Lameda välja okulaari WF10X (φ18mm) koos rist diferentseerumise joonlauaga | O | |
| objektiiv | Achromatiline eesmärk 10x/0,25/WD7.31mm | · |
| Poolplaani akromaatiline eesmärk 40x/0,65/WD0,66mm | · | |
| Akromaatiline eesmärk 100x/1,25/WD0.37mm (õli) | · | |
| muundur | Nelja augumuundur | · |
| Keskendumismehhanism | Reguleerimisvahemik: 25 mm, skaala võre väärtus: 0,002mm | · |
| Lava | Topeltkihiline mehaaniline mobiilside tüüp (suurus: 180mmx200mm, liikuv vahemik: 50mmx70mm) | · |
| Valgustussüsteem | 6 V 20W halogeenlamp, heledus reguleeritav | · |
| värvifilter | Kollane filter, roheline filter, sinine filter | · |
| tarkvarapakett | Metallograafilise analüüsi tarkvara (versioon 2016, versioon 2018) | O |
| Kaamera | Metallograafiline digikaamera seade (5 miljonit, 6,3 miljonit, 12 miljonit, 16 miljonit jne) | |
| 0,5x kaameraadapter | ||
| Mikromeeter | Kõrgetasemeline mikromeeter (ruudu väärtus 0,01 mm) | |
Märkus： ”·"Standard ；"O”Valikuline
